高低溫(wen)(wen)(wen)試驗(yan)箱是(shi)適用于(yu)工(gong)業(ye)產(chan)品高溫(wen)(wen)(wen)、低溫(wen)(wen)(wen)的可靠性試驗(yan)。對(dui)電子電工(gong)、汽車摩托、航(hang)空(kong)航(hang)天、船(chuan)舶(bo)兵器(qi)、高等院(yuan)校、科研單位等相關(guan)產(chan)品的零部(bu)件及材料(liao)在高溫(wen)(wen)(wen)、低溫(wen)(wen)(wen)（交(jiao)變）循(xun)環變化的情況(kuang)下(xia)，檢驗(yan)其各(ge)項性能指標。
高低(di)溫試(shi)驗箱(xiang)(xiang)顧名思(si)義(yi)具有較寬(kuan)的溫度控制范圍，其性能指標均達到國家(jia)標準GB10592-89高低(di)溫試(shi)驗箱(xiang)(xiang)技術條件，適(shi)用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子(zi)產(chan)品(pin)環(huan)境試(shi)驗 試(shi)驗[**]：低(di)溫試(shi)驗方法，試(shi)驗B：高溫試(shi)驗方法》對產(chan)品(pin)進行(xing)低(di)溫、高溫試(shi)驗及恒定溫熱試(shi)驗。產(chan)品(pin)符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準。
一(yi)，高低溫(wen)試驗箱使用方法
（1）歸一化處理
將(jiang)試(shi)驗樣品統(tong)一歸納放置(zhi)到正常的試(shi)驗氣體當(dang)中，直到超出(chu)相(xiang)應的溫(wen)度穩定后。
（2）初始檢測
高低溫試(shi)驗(yan)(yan)箱破壞性環境試(shi)驗(yan)(yan)箱試(shi)驗(yan)(yan)試(shi)驗(yan)(yan)整個過(guo)程：
1、將要求的試驗樣(yang)品放到試驗箱內，并將環(huan)境試驗箱(室)內溫度升到70，保持1h或(huo)者(zhe)直至試驗樣(yang)品超出溫度穩定，以時間長都(dou)算起。
2、高溫階段結(jie)束后(hou)，在5min內將(jiang)試(shi)(shi)驗樣(yang)品轉換(huan)到已調節到-55的(de)低溫試(shi)(shi)驗箱(xiang)(室(shi))內，保持1h或者(zhe)直至試(shi)(shi)驗樣(yang)品超出溫度(du)穩定，以時(shi)間長都算起。
3、低溫階(jie)段結束后，在5min內將試(shi)驗(yan)樣品(pin)轉換到已(yi)調節到70的高(gao)低溫試(shi)驗(yan)箱(室(shi))內，保(bao)持1h或者直至試(shi)驗(yan)樣品(pin)超出溫度穩定，以時間長(chang)都算起。
4、不斷(duan)上述實驗(yan)(yan)方法，開展3個循環周期(qi)。(注(zhu)：對大的(de)或(huo)重的(de)試驗(yan)(yan)樣品，從1個環境試驗(yan)(yan)箱轉換(huan)到此外環境試驗(yan)(yan)箱的(de)轉換(huan)時間，由有關(guan)標準或(huo)專業性文(wen)本文(wen)檔規定)。
5、試驗結束后是將被測(ce)試驗樣品恢復
試(shi)驗(yan)樣(yang)品從試(shi)驗(yan)箱內取(qu)出后，應在一切(qie)正常的試(shi)驗(yan)氣體規范下進行(xing)恢復(fu)，直至試(shi)驗(yan)樣(yang)品超出溫(wen)度穩定(ding)。
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